这种材料,有望在先进节点取代铜和钨

这种材料,有望在先进节点取代铜和钨

文章图片


本文由半导体产业纵横(ID:ICVIEWS)编译自semiengineering
钼非常自然地适用于接触点和字线应用 , 能很好地融入现有的集成方案 。

钼(Molybdenum)正日益显示出其潜力 , 有望取代当今半导体制造中常用的多种金属 , 尤其是在前沿工艺节点上 。
在先进节点 , 芯片制造商正逐一淘汰某些金属 。 尽管钌(ruthenium)衬垫已接近量产准备 , 但该金属尚未准备好在高度微缩的互连中取代铜 。 欧洲微电子研究中心(imec)的院士Zsolt T?kei指出 , 钌的价格非常昂贵 , 且当前的制造工艺对此并无助益 。 此外 , 大马士革工艺中“过度沉积再抛光回蚀”步骤所产生的大量废料也是一个严重问题 。 而虽然减法金属化能减少废料量 , 但它需要对整体工艺进行更重大且成本高昂的变革 。
前景有限的金属不仅仅仅是铜 。 晶体管接触点、存储器中的字线以及类似应用通常使用钨(tungsten)、钴(cobalt)和其他金属 , 而非铜 。 然而 , 它们面临着许多与铜相同的微缩问题 。 与铜一样 , 随着特征尺寸的缩小 , 钨的电阻率会不断增加 。 它还需要一个阻挡层以避免电介质污染 。 在3D NAND器件中 , 铠侠的研究人员报告称 , 通常用于钨沉积的六氟化钨(WF6)前驱体所产生的氟残留物可能会被困在空洞中 , 最终侵蚀周围的电介质材料 。 随着特征尺寸缩小和电流密度增加 , 钨也面临电迁移问题 。
那么 , 下一步是什么?对于这些应用 , 一个日益具有吸引力的选择——至少目前看来——是钼 。 T?kei表示 , 与现有材料及钌等替代品相比 , 钼具有多重优势 。 它的电阻率优于钨 , 不需要阻挡层 , 且与钌相比 , 它更便宜并对电介质有更好的附着力 。
更少阻挡 , 更低电阻在混合金属化方案中 , 钼作为一种无阻挡层的接触金属尤其具有吸引力 。 在这种方案中 , 首先进行通孔预填充 , 然后是铜大马士革线 。 因为位于通孔或其他垂直特征底部的阻挡层会串联一个额外的电阻 , 所以底部阻挡层主导了接触点和通孔的电阻 。
拉姆研究(Lam Research)的高级半导体工艺与集成工程师TaeYeon Oh及其同事在近期的IEEE互连技术大会上展示 , 无阻挡层的混合钼方案与传统的铜双大马士革设计相比 , 可将总电阻降低约56% 。
T?kei表示 , 将钼集成到这样的工艺流程中 , 除了金属沉积模块本身 , 可能几乎不需要其他改动 。 钼比钌更容易氧化 , 使其更容易被化学机械抛光(CMP)去除 。
然而 , imec的Jean-Philippe Soulié及其同事的一项深入分析警告说 , 金属的体特性在评估其在实际器件中性能时价值有限 。 对于钼以及其他纳米线而言 , 电学、热学和电迁移特性都取决于沉积薄膜的晶粒尺寸和晶界结构 。 而这些又取决于前驱体、工艺参数、底层电介质的表面特性等等 。
管理电迁移界面和晶界是电迁移的主要路径 , 同时也会引起电子散射并降低电阻率 。 对于钼的集成 , 金属沉积模块需要能够处理像MoO2Cl2和MoCl5这样的固态前驱体 。 总的来说 , 固态前驱体在半导体制造中正变得越来越普遍 。 然而 , 与气态甚至液态前驱体相比 , 固态前驱体的热稳定性通常较差 , 提供的材料通量也不够均匀 。
拉姆研究的研究人员表示 , 他们通过循环沉积技术实现了对晶粒尺寸的精确控制 , 根据需要混合基于热和等离子体的工艺以达到预期效果 。 他们的研究表明 , 大晶粒的钼薄膜对于成功集成至关重要 。 在他们的实验中 , 小晶粒钼的电阻率对厚度的依赖性与钨相当 。 相比之下 , 大晶粒钼的电阻率对厚度的依赖性要小得多 , 并且在厚度低于约7纳米时优于钨、钌 , 甚至铜 。
韩国科学技术院(KAIST)的研究显示 , 当钼中确实存在晶界时 , 掺杂钴等元素有助于减少散射 。 然而 , 在较高浓度下 , 电阻率会急剧增加 。
在背面供电应用中 , 预测金属行为尤其具有挑战性 。 背面供电网络会增加电流密度 , 从而增加电迁移的风险 。 出于类似原因 , 它们也容易出现热点 。
尽管背面供电配置中的电迁移和散热问题尚待深入分析 , 但钼具有一些明显的优势 。 作为一种难熔金属 , 即使在非常高的温度下 , 它也具有机械稳定性 。 对电介质更好的附着力使其更不容易形成空洞 。 它也是比钌更好的热导体 。 中山大学的一位研究员解释说 , 更好的电迁移抗性允许设计者更紧密地堆叠晶体管 , 从而减小整体器件面积 。
尽管还需要更多的实验结果 , 但早期的钼集成研究已相当有前景 。 铠侠的研究小组发现 , 相对于钨 , 钼的较低电阻率使他们能够在保持RC常数不变的情况下 , 将字线间距减小7.3% 。 存储孔间距缩小了超过3.7% , 从而使位密度总体增加了16.3% 。
【这种材料,有望在先进节点取代铜和钨】总体而言 , T?kei表示 , 钼非常自然地适用于接触点和字线应用 , 能很好地融入现有的集成方案 。 不过 , 从长远来看 , 钌可能可以扩展到更小的器件上 。
*声明:本文系原作者创作 。 文章内容系其个人观点 , 我方转载仅为分享与讨论 , 不代表我方赞成或认同 , 如有异议 , 请联系后台 。
想要获取半导体产业的前沿洞见、技术速递、趋势解析 , 关注我们!

    推荐阅读