k是和TFT迁移率有关的参数 , Vgs和Vds又和电源电压与OLED驱动电压有关 。
可知影响电流大小的参数有TFT迁移率、阈值电压 , OLED的驱动电压以及电源电压的大小 。
补偿技术的主要目的就是要消除这些因素的影响 , 最终让所有像素的亮度达到理想值 。

内部补偿下图是一个典型的内部补偿型电路 , 它由7个TFT和1个存储电容组成 , 因此被简称为7T1C结构 。
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类似还有6T1C , 5T2C等很多类似电路结构 , 经过近几年的不断研究和发展 , 内部补偿电路的拓扑结构几乎已被穷尽 , 很难再有实用性的结构创新 。
这种像素电路工作时一般都会有三个工作阶段 , 会经历复位、补偿、发光 , 即一个驱动周期至少要干2到3件事 , 因此对电路驱动能力和面板上的负载都有一定要求 。
它的一般工作思路是在补偿阶段把TFT的阈值电压Vth先储存在它的栅源电压Vgs内 , 在最后发光时 , 是把Vgs-Vth转化为电流 , 因为Vgs已经含有了Vth , 在转化成电流时就把Vth的影响抵消了 , 从而实现了电流的一致性 。
但是实际因为寄生参数和驱动速度等影响 , Vth并不能完全抵消 , 也即当Vth偏差超过一定范围时(通常?Vth≥0.5V) , 电流的一致性就不能确保了 , 因此说它的补偿范围是有限的 。
外部补偿之Demura
外部补偿根据数据抽取方法的不同又可以分为光学抽取式和电学抽取式 。光学抽取式是指将背板点亮后通过光学CCD照相的方法将亮度信号抽取出来 , 电学抽取式是指通过驱动芯片的感应电路将TFT和OLED的电学信号抽取出来 。
两种方法抽取的信号种类不同 , 因此数据处理的方式也不同 。光学抽取的方式具有结构简单 , 方法灵活的优点 , 因此在现阶段被广泛采用 , 即为我们平时所说的Demura 。
对于面板厂而言 , 需要进行质量监控 , 因此在产线上均有技术员去检测判定mura , 但是这种方法很主观 , 不同人的判定有差异 , 给品质管控带来很大的困扰 。
因此技术人员开发出AOI设备进行mura的检测 , 以及检测到Mura后进行补偿消除Mura , 即Demura 。
OLED
Demura技术 , 目前三星和LG处于领先的位置 , 但是Demura技术很复杂 , 均不能算成熟完美 , 国内各个厂家也在积极开发子自己的Demura技术 , 希望能够提升良率 。这也就是为啥大家经常发现OLED屏幕出现阴阳屏、绿屏的原因 。
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